Описание
Технические характеристики
Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М способен решать широкий круг задач порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов.
Модификация ДРОН-7М полностью освобождена от радиационного контроля.
Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7М предназначен для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Дифрактометр представляет собой стационарный прибор. Конструктивно он выполнен в виде приборного каркаса, в котором на направляющих располагаются высоковольтный источник питания рентгеновской трубки, блок управления и сбора данных, блок управления приводом. На приборном каркасе в специальной защите от прямого и отраженного рентгеновского излучения трубки располагается стойка дифрактометрическая, включающая в себя горизонтальный двукружный гониометр, рентгеновскую трубку в защитном кожухе с программно-управляемой электромагнитной заслонкой, блок детектирования и коллимационную систему с щелевыми устройствами. В конструкции дифрактометра предусмотрена блокировка дверей защиты для предотвращения несанкционированного доступа в рабочую зону дифрактометра. Двери защитного кабинета снабжены электромеханическими замками, которые управляются устройством их блокировки. Открытие заслонки кожуха рентгеновской трубки возможно только при закрытых дверях. Открыть двери возможно только после закрытия заслонки.
Схема
|
Гониометр |
||
|
Тип |
Горизонтальный 2θ-θ |
|
|
Рентгенооптическая схема |
Брэгга-Брентано/Дебая-Шеррера/параллельно-лучевая |
|
|
Радиус R, мм |
200 |
|
|
Диапазоны углов, град |
2θ |
от -100 до 165 |
|
θ |
от -180 до 180 |
|
|
Режимы сканирования |
пошаговый/непрерывный |
|
|
Методы сканирования |
θ-2θ, 2θ, θ, 2θ-Ω |
|
|
Минимальный шаг сканирования, град |
0.001 |
|
|
Скорость сканирования, град/мин |
от 0.1 до 50 |
|
|
Воспроизводимость, град |
±0.0025 |
|
|
Транспортная скорость, град/мин |
720 |
|
|
Система регистрации (базовая): |
||
|
Тип детектора |
сцинтилляционный NaI (Tl) |
|
|
Скорость счета, имп/с |
до 500 000 |
|
|
Высоковольтный источник питания: |
||
|
Мощность, кВт |
3 |
|
|
Напряжение, кВ |
0-60 |
|
|
Ток, мА |
0-80 |
|
|
Стабильность анодного тока и напряжения, % |
0,01 |
|
|
Охлаждение |
воздушное |
|
|
Рентгеновская трубка (базовая): |
||
|
Тип |
2,5БСВ-27Cu |
|
|
Размер фокуса, мм |
10 х 1.6 |
|
|
Охлаждение |
водяное (3 л/мин) |
|
|
Эксплуатационные характеристики |
||
|
Установочная площадь, м2 |
5 |
|
|
Потребляемая мощность, кВА |
5,5 |
|
|
Масса, кг |
470 |
|
|
Питание, B/Гц |
однофазное 220/50 |
|
|
Габаритные размеры (Д х Ш х В), мм |
1050 х 1100 х 1800 |
|
Опции
| ДЕРЖАТЕЛИ ОБРАЗЦОВ, ПРИСТАВКИ и КАМЕРЫ | |
|---|---|
 |
Держатель монолитных образцов. Предназначен для установки образцов толщиной до 10 мм и длиной до 100 мм. |
 |
Держатель цилиндрических образцов (капилляров) диаметром 0,1-1,0 мм. Предназначен для измерений в геометрии Дебая-Шеррера. |
 |
Приставка ПГТМ Приставка для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и для экспрессного определения ориентации небольших монокристаллов диаметром до 28 мм. Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца: - поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°, - наклон по оси χ - от 3 до +70° В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и методом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении. |
 |
Высокотемпературные камеры (до 1200°С ) для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий. |
 |
Автосменщик образцов на 6 позиций для потокового измерения порошковых или монолитных образцов (диаметром до 28 мм) на дифрактометре. |
| СИСТЕМЫ РЕГИСТРАЦИИ | |
 |
Система регистрации рентгеновского излучения на основе линейного позиционно-чувствительного стрипового детектора. Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным детектором (несколько минут вместо нескольких часов измерений для получения хорошей статистики данных). В систему также входит коллимационная система на дифрагированном пучке и ловушка первичного пучка для обеспечения измерений на ближних углах (с 3 град.). Особенно эффективно использовать СБР для плохо окристаллизованных, быстро разлагающихся объектов или при малых количествах вещества. Незаменима при in situ исследованиях химических реакций и фазовых превращений в сочетании с высоко-и низкотемпературными приставками и при сборе данных для анализа остаточных напряжений. |
| РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ | |
 |
Универсальный держатель монохроматора на падающем пучке. |
 |
Универсальный держатель монохроматора на дифрагированном пучке. |
 |
Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов. |
 |
Одномерное параболическое зеркало для перехода в параллельно-лучевую геометрию. |
| ДРУГИЕ ОПЦИИ | |
 |
Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град. |
 |
Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr) |
 |
Щели Соллера с расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора. |
 |
Бета-фильтры для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора. |
Программное обеспечение
  |
Предварительная обработка DrWin • Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента • Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой) • Разделение K-дуплетов • Определение угловых положений • Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика) • Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов • Расчет ПШПВ рефлексов |
 |
Количественный анализ Quan • Полный анализ многофазной смеси • Анализ n-компонентной системы • Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения Метод внутреннего стандарта • Метод корундовых чисел • Метод добавок • Метод разбавления |
 |
Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain • Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов • Расчет инструментального фактора • Учет поглощения при использовании эталона другого состава |
  |
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern • Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным • Учет инструментального фактора • Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы • Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной • Встроенный пакет математической кристаллографии |
 |
Автоиндицирование Ind • Определение типа решетки Браве • Выбор элементарной ячейки • Расчет индексов дифракционных отражений • Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы |
 |
Метод Ритвельда Rietveld • Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца • Расчет полиномиального и физического фона • Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов • Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы • Выбор стратегии уточнения Управление условиями уточнения • Расчет пяти R-факторов |
 |
Расчет макронапряжений MacroStress • Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика • Нахождение матрицы поправок • Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений Расчет погрешностей напряжений |
  |
Терморентгенография Thermo • 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура» • Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту • Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных Определение точек фазовых переходов • Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций Построение фигур КТР |
 |
Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match • Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD) • Автоматический или ручной алгоритм поиска< • Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска • Возможность добавления собственных стандартов в подбазы • Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам) • Анализ совпавших линий по положению и интенсивности • Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел • Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям |
| Качественный и количественный фазовый анализ по базе COD. |
JoomShopping Download & Support